Reliability, Yield, and Stress Burn-In
Reliability, Yield, and Stress Burn-In

Reliability, Yield, and Stress Burn-In

A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Dev

Kuo, Way

Editorial:
Springer US
ISBN:
978-1-4613-7596-8
Materias:
Editorial:
Springer US
Encuadernación:
No definida.
País de publicación :
España
Idioma de publicación :
Español
Idioma original :
Español
ISBN:
978-1-4613-7596-8
EAN:
9781461375968
Fecha publicación :
01-09-2014
Disponible en 0 librerías

Dónde encontrar "Reliability, Yield, and Stress Burn-In"

Stock en librería
Disponible en 2-3 Días

Disponible en 0 librerías

    Sinopsis

    Sinopsis de: "Reliability, Yield, and Stress Burn-In"

    Información no disponible
    Más sobre

    Kuo, Way

    Información sobre el autor no disponible


    Más títulos de Kuo, Way
    Los lectores opinan

    Valoraciones y comentarios

    No hay comentarios, sé el primero en comentar

    Añadir comentario
    También te puede interesar

    Libros relacionados