II International Conference on Electromagnetic Near-Field
Editorial:
Centro Internacional de Métodos Numéricos en Ingeniería
Encuadernación:
Tapa blanda o Bolsillo
Idioma de publicación :
Inglés
ISBN:
978-84-95999-72-6
EAN:
9788495999726
Dimensiones:
160 x 240 mm.
Nº páginas:
467
Fecha publicación :
01-05-2005
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    International Conference on Electromagnetic Near-Field Characterization and Imaging / Cardama Aznar, Ángel / coord. / Jofre Roca, Lluís / coord. / Mallorquí Franquet, Jordi J. / coord.

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